Il progetto è mirato all'investigazione del comportamento di polimeri isolanti, soggetti a condizioni estreme di stress, vicino all'interfaccia con gli elettrodi nonché con le nanoinclusioni aggiunte per migliorarne le prestazioni, per mezzo di microscopie a super-risoluzione chiamate microscopie a forza elettrostatica (EFM). I microscopi disponibili per questo progetto sono in grado di investigare le proprietà funzionali dei materiali, in aggiunta alla loro morfologia, con una risoluzione spaziale di pochi nanometri, che è l'attuale stato dell'arte riguardante la misura di proprietà elettriche locali.