Irrera Alessia


Contatti
Sede: Messina
Qualifica: In Organico
Ruolo: Primo Ricercatore
Email: irrera@ipcf.cnr.it
Telefono: 090 39762266
Skype: 0000

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Esperienze Lavorative

-27 Ottobre 2000 : Laurea in ingegneria dei materiali conseguita presso l’Università degli Studi di Messina;

– Febbraio 2004: Dottorato di Ricerca in “Scienza dei Materiali” presso l’Università degli Studi di Catania

-1 Novembre 2004-10 Dicembre 2004: Assegno di ricerca presso l’istituto IMM del CNR;

– Dicembre 2004-Febbraio 2009 Ricercatore (tipologia TENURE TRACK) presso il centro di ricerca e sviluppo MATIS CNR INFM di Catania;

-Febbraio 2009: Ricercatore a tempo indeterminato presso il CNR MATIS IMM di Catania

-Settembre 2010: Trasferimento presso L’istituto CNR IPCF di Messina

Attività di Formazione

-Dicembre 2005- Nomina a cultore della materia “Fondamenti di Fotonica” decretata dal consiglio di struttura didattica aggregata di fisica di Catania;

– Correlatrice di 7 tesi di laurea in Fisica presso l’università degli studi di Catania, 5 Tesi di Dottorato presso l’università di Catania, 2 Stage formativi con credito dell’Università di Messina,  Responsabile di un assegno di ricerca presso l’IPCF CNR di Messina.

-Membro del Collegio Docenti del Dottorato in Scienza dei Materiali dell’Università di Catania;

Attività di Ricerca 

Il principale interesse della sua ricerca è la sintesi e caratterizzazione ottica e strutturale di nanostrutture di silicio. I suoi sforzi sono focalizzati nel convertire alcune tecniche tradizionali usate per la deposizione di film sottili (deposizione chimica da fase vapore, sputtering, evaporazione da fascio elettronico) a strumenti avanzati per il controllo della sintesi di una vasta gamma di nanostrutture di silicio, germanio e metalliche (nanocristalli, nanoclusters amorfi, nanofili). Una speciale attenzione è rivolta al controllo delle proprietà strutturali delle nanostrutture, includendo la taglia, la forma, la densità di volume, cristallinità, densità di difetti, passivazione della superficie, dato che la maggior parte delle loro proprietà elettriche ed ottiche dipendono in maniera critica da tutti questi parametri. Una altra parte rilevante della sua ricerca è focalizzata sulle proprietà ottiche a temperatura ambiente di nanostrutture di silicio sotto pompaggio elettrico ed ottico; una speciale attenzione è rivolta ai meccanismi che limitano l’efficienza di emissione e alla prospettiva di questi materiali come sensori ottici avanzati e dispositivi per la microfotonica.

Competenze

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