Monthly Archives: Giugno 2016
Field Emission Scanning Electron Microscope SIGMA ZEISS
Transmission Electron Microscope JEOL JEM-1010
Atomic Force Microscope AFM XE 100 PSIA

Atomic Force Microscope for morphological studies of surfaces and nanostructured materials at the nanoscale. It provides three-dimensional topography and surface measurements at atomic resolution, with easy sample preparation and manipulation. Nome e marca dello strumento Atomic Force Microscope AFM XE
Spettrofotometro Jasco 7800

Spettrofotometro doppio raggio con range 250-1100 nm Nome e marca dello strumento Spettrofotometro Jasco 7800 Ubicazione Lab 117, sede di Bari Anno fabbricazione/installazione 1985 Descrizione caratteristiche operative Sorgente UV: lampada al deuterio; sorgente Vis: lampada al tungsteno. Rivelatore: fotodiodo. Campi
PARTICLE SIZE ANALYZER Horiba LB-550 (DLS)

Strumento per la caratterizzazione dimensionale delle particelle (Dynamic Light Scattering) Nome e marca dello strumento PARTICLE SIZE ANALYZER Horiba LB-550 Ubicazione stanza 116 – IPCF Bari Anno fabbricazione/installazione 2010 Descrizione caratteristiche operative Condizioni standard di temperatura ed umidità Campi di
Spettrofotometro Cary 5000 – Agilent

Spettrofotometro UV-vis-NIR dotato di sfera di integrazione per misure di riflettanza Nome e marca dello strumento Spettrofotometro Cary 5000 – Agilent Ubicazione stanza 134 – IPCF Bari Anno fabbricazione/installazione 2003 Descrizione caratteristiche operative Condizioni ambientali di temperatura ed umidità Campi
Cluster di server Alpha, Hewlett and Packard
Sonicatore a punta Branson 250

Disintegratore ad ultrasuoni per trattamento/omogeneizzazione di cellule o tessuti biologici, estrazione, emulsione, accelerazione delle reazioni, dispersione miscele e degassamento. Nome e marca dello strumento Sonicatore a punta Branson 250 Ubicazione Lab 117, sede di Bari Anno fabbricazione/installazione 1990 Descrizione caratteristiche